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本スタンダードの目的は，材料もしくは装置に，危険な状態もしくは損傷の可能性をもたらすような隔離バルブの開閉を，防止することにある。
This Test Method covers the direct measurement of the sheet resistance and its variation for all but the periphery (amounting to three probe separations) for circular conducting layers pertinent to silicon semiconductor technology
1に準拠するSAN通信スタンダードを規定するものである。本文書自体は，本スタンダードに準拠するインテリジェント・機器(デバイス)がSEMI E39と同様の考え方でSANを介して情報を交換する際にサポートしなければならないプロトコル，サービス，および挙動を規定している。
1 This Test Method uses Euclidean techniques
The scope of this Document covers high purity zirconium amides
PV04700 - SEMI PV47 - 晶体硅光伏组件用减反射镀膜玻璃技术规范 StdPbc-211 本スタンダードの目的は，材料もしくは装置に，危険な状態もしくは損傷の可能性をもたらすような隔離バルブの開閉を，防止することにある。NOTICE: This translation is a REFERENCE COPY ONLY. If differences should exist between the English version and a translation in any other language, the English version is the official and authoritative version. Referenced SEMI Standards (purchase separately) None.